Рентгеновская дифрактометрия

Дополнительная профессиональная программа учебного курса повышения квалификации "Рентгеновская дифрактометрия" направлена на обучение основам рентгеновской дифракции и дифрактометрии, а также практическим навыкам работы на дифрактометрах.

 

Цель обучения

  • Обучить основам рентгеновской дифракции и дифрактометрии, а также практическим навыкам работы на дифрактометрах.

Приобретаемые знания и умения:

  • знания:
    • теории взаимодействия рентгеновских лучей с веществом;
    • устройства дифрактометров и основных решаемых задач;
    • методик пробоподготовки и работы с различными типами образцов.
  • умения:
    • выполнять основные текущие технологические операции при работе на дифрактометрах;
    • ставить условия проведения измерения для решения задач;
    • интерпретировать результаты и проводить обработку с использованием программного обеспечения;
    • проводить основные операции по обслуживанию дифрактометров.

Объем дисциплины и виды учебной работы:

  • Объем программы составляет 40 академических часов, из которых 36 часов составляют аудиторные учебные занятия (14 часов лекционного типа и 22 часа практического типа) и 4 часа итоговая аттестация.

Содержание лекционного курса

  • Методы рентгеноструктурного анализа
    • 1.1 Рентгеновская техника. Источники рентгеновского излучения. Пути повышение удельной мощности трубок. Использование источников синхротронного излучения.
    • 1.2 Детекторы (счетчики) рентгеновского излучения. Оптическая схема рентгеновского дифрактометра, юстировка.
    • 1.3 Методы рентгеноструктурного анализа. Рентгеновская дифрактометрия.
    • 1.4 Влияние фона на точность измерений в рентгеновской дифрактометрии. Основные характеристики профиля рентгеновской линии. Понятие о статистических ошибках счета. Влияние фона на точность измерения. Снижение уровня фона на дифрактограмме.
    • 1.5 Основные сведения о рассеянии рентгеновских лучей кристаллами. Рассеяние идеальным (бездефектным) кристаллом. Рассеяние кристаллом с дефектами. Модель субструктуры.
    • 1.6 Анализ субструктуры по интегральной ширине рентгеновских линий.
    • 1.7 Рентгеновский качественный фазовый анализ Основные принципы качественного фазового анализа. Базы данных спектров фаз. Фазовый анализ с помощью программ PDXL. Основные проблемы при качественном фазовом анализе.
    • 1.8 Рентгеновский количественный фазовый анализ. Метод градуировочного графика. Метод количественного анализа с использованием чистой фазы. Использование корундового числа для измерения абсолютной интенсивности. Использование кинематического эталона и расчет абсолютной интенсивности.  Проведение количественного фазового анализа методом Ритвельда (метод подгонки спектра по программам PDXL). Систематические ошибки метода и их учет. Требования к подготовке образцов для фазового анализа.
  • Решение практических задач на рентгеновских дифрактометрах
    • 2.1 Получение дифракционного спектра от тонкой пленки или поверхностного слоя. Толщина анализируемого слоя. Аберрации при несимметричной съемке. Геометрия параллельного пучка.
    • 2.2 Неразрушающее определение толщины тонких пленок (фольги) и покрытий на рентгеновском дифрактометре.
    • 2.3 Методы прецизионного определение периода решетки.
    • 2.4 Рентгеновский анализ макронапряжений
    • 2.5 Рентгеновский анализ кристаллографических текстур. Классификация текстур. Представление (описание) текстур. Построение полюсных фигур с помощью дифрактометра.  Построение ОПФ. Представление текстуры с помощью ФРО.
    • 2.6 Рефлектометрия.
    • 2.6. Обслуживание растрового электронного микроскопа. Профилактические и регламентные работы.
    • 2.7. Повседневный уход: юстировка.
    • 2.8. Обслуживание: воды в системе охлаждения, обслуживание рентгеновской трубки.

Перечень тем практических занятий

  • Влияние фона на точность измерений в рентгеновской дифрактометрии. Основные характеристики профиля рентгеновской линии. Понятие о статистических ошибках счета. Влияние фона на точность измерения. Снижение уровня фона на дифрактограмме.
  • Анализ субструктуры по интегральной ширине рентгеновских линий.
  • Рентгеновский качественный фазовый анализ Основные принципы качественного фазового анализа. Базы данных спектров фаз. Фазовый анализ с помощью программ PDXL. Основные проблемы при качественном фазовом анализе.
  • Рентгеновский количественный фазовый анализ. Метод градуировочного графика. Метод количественного анализа с использованием чистой фазы. Использование корундового числа для измерения абсолютной интенсивности. Использование кинематического эталона и расчет абсолютной интенсивности.  Проведение количественного фазового анализа методом Ритвельда (метод подгонки спектра по программам PDXL). Систематические ошибки метода и их учет. Требования к подготовке образцов для фазового анализа.
  • Получение дифракционного спектра от тонкой пленки или поверхностного слоя. Толщина анализируемого слоя. Аберрации при несимметричной съемке. Геометрия параллельного пучка.
  • Неразрушающее определение толщины тонких пленок (фольги) и покрытий на рентгеновском дифрактометре.
  • Методы прецизионного определение периода решетки.
  • Рентгеновский анализ макронапряжений
  • Рентгеновский анализ кристаллографических текстур. Классификация текстур. Представление (описание) текстур. Построение полюсных фигур с помощью дифрактометра.  Построение ОПФ. Представление текстуры с помощью ФРО.
  • Рефлектометрия

Форма обучения

  • Очно-заочная

Срок обучения

  • 4 недели

Период работы программы

  • По мере формирования группы

Выдаваемый документ

  • Удостоверение о повышении квалификации

Подробно о программе