Центр коллективного пользования «ИГЕМ-Аналитика»

Центр коллективного пользования "ИГЕМ-Аналитика" — это структурное подразделение ИГЕМ РАН, предоставляющее современные аналитические инструменты для углубленных исследований в области минералогии, геологии и материаловедения. Сотрудники центра — высококвалифицированные специалисты, в том числе доктора и кандидаты наук, с колоссальным опытом, что гарантирует высококачественное выполнение исследовательских проектов.

1. Задачи ЦКП "ИГЕМ-Аналитика"

Целью создания ЦКП "ИГЕМ-Аналитика" является предоставление научным и промышленным организациям возможностей для проведения комплексных исследований в области минералогии и материаловедения. Центр оказывает помощь в изучении морфологии минералов, руд и горных пород, а также в анализе их структурно-текстурных особенностей и элементного состава. Исследования проводятся с использованием передовых технологий, таких как порошковая рентгеновская дифрактометрия, рентгеновская флуоресценция, масс-спектрометрия, оптико-электронная спектрометрия, электронная микроскопия и др.

Особое внимание уделяется количественным методам анализа, которые являются основой для применения минералов и горных пород в различных отраслях, включая горнодобывающую, металлургическую и строительную промышленность.

2. Основные услуги и возможности ЦКП "ИГЕМ-Аналитика"

ЦКП "ИГЕМ-Аналитика" предоставляет следующие услуги, направленные на углубленные исследования минералов и синтетических материалов:

  • Порошковая рентгеновская дифрактометрия (XRD)
    Этот метод применяется для определения фазового состава горных пород и синтетических материалов, а также для анализа их кристаллической структуры. Порошковая рентгеновская дифрактометрия позволяет выявлять примеси и проводить качественный и количественный рентгенофазовый анализ, что важно для оценки качества и потенциального использования материалов.
    Возможности метода:
    • Идентификация минералов.
    • Оценка фазового состава.
    • Анализ кристаллической структуры.

Приборы: Рентгеновский дифрактометр Rigaku D/MAX-2200, дифрактометр PROTO «AXRD».

  • Рентгеноспектральный микроанализ
    Этот метод применяется для проведения количественного элементного анализа с использованием волнодисперсионных спектрометров.
    Возможности метода:
    • Определение химического состава твердых тел (кроме органики) размером от 15 микрометров и более (металлы, сплавы, минералы, стекла, керамика и т.д.)
    • Изучение микрохимической неоднородности твердых тел
    • Научно-исследовательские работы при решении технологических задач производства

Прибор: Рентгеновский микроанализатор JEOL JXA-8200

  • Рентгенфлюоресцентный анализ (XRF)
    XRF используется для определения элементного состава образцов, что позволяет проводить быстрый и точный химический анализ минералов и горных пород, включая редкоземельные и тяжелые элементы. Этот метод применяется для оценки содержания полезных и вредных элементов в исследуемых материалах.
    Возможности метода:
    • Быстрая диагностика элементного состава почв, пород и руд.
    • Определение следовых элементов.
    • Прибор: Рентгено-флюоресцентный спектрометр «Axios Advanced».
    • Пределы обнаружения: Нижний предел количественного анализа любого компонента составляет 0.02 мас. %

 

  • Электронная микроскопия (SEM) с энерго-дисперсионной спектрометрией (EDS) и дифракцией обратно-рассеянных электронов (EBSD)
    Электронная микроскопия используется для исследования микроструктуры минералов и руд, что позволяет получить детализированное изображение поверхности образцов. В сочетании с энерго-дисперсионной спектрометрией (EDS) эта техника позволяет строить карты распределения химических элементов, выявлять разновидности минералов и исследовать их состав. Метод дифракции обратно-рассеянных электронов (EBSD) применяется для проведения фазового анализа и построения ориентационных карт образца, что помогает изучать кристаллическую структуру и текстуру материалов.
    Возможности метода:
    • Изучение микроструктуры и текстуры.
    • Анализ поверхности минералов.
    • Составление электронных изображений с высоким разрешением.
    • Построение карт распределения химических элементов.
    • Фазовый анализ и построение ориентационных карт.

Приборы: Сканирующие электронные микроскопы «JSM-5610LV», «JSM-IT500», «EM-30AXN».

  • Масс-спектрометрия с индуктивно-связанной плазмой - ICP-MS
    Метод позволяет проводить точный количественный анализ следовых элементов в минералах и горных породах. Пробоподготовка производится методом кислотного разложения.
    Возможности метода:
    • Определение следовых количеств элементов в пробе.
    • Высокая чувствительность и точность.
    • Применение для геохимических исследований.
    • Прибор: Квадрупольный масс-спектрометр с индуктивно-связанной плазмой SUPEC 7000.
    • Пределы обнаружения зависят от состава матрицы. Для стандартного образца BHVO-2 (базальт) пределы обнаружения редкоземельных элементов варьируют от 0.001 до 0.02 мкг/г.

 

  • Эмиссионная спектроскопия с индуктивно-связанной плазмой - ICP-AES
    ICP-AES используется для одновременного анализа множества элементов в образцах, что позволяет быстро и точно определять их химический состав. Это особенно важно для геологических и минералогических исследований, где требуется анализ больших объемов данных.
    Возможности метода:
    • Одновременный анализ множества элементов.
    • Высокая пропускная способность.
    • Применение для анализа руд, почвы и воды.
    • Прибор: Оптико-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой EXEC 6500.
    • Пределы обнаружения: от 0,1 до 10 мг/кг (в зависимости от элемента).

 

  • Масс-спектрометрия с индуктивно-связанной плазмой с лазерным пробоотбором - LA-ICP-MS
    Этот метод используется для анализа с высокой пространственной точностью, что позволяет исследовать локальные изменения состава минералов и горных пород с использованием лазерного пробоотбора.
    Возможности метода:
    • Прецизионный анализ с высоким пространственным разрешением.
    • Микроанализ материалов с высокой точностью.
    • Применение для геологических и минералогических исследований.
    • Прибор: Квадрупольный масс-спектрометр с индуктивно-связанной плазмой Thermo XSeries 2 с системой лазерного пробоотбора New Wave UP213.
    • Пределы обнаружения зависят от состава матрицы. Типичное значение 0.03 ppm.

Пробоподготовка

В центре используется ряд методов пробоподготовки, включая дробление, рассеивание, истирание, электромагнитную сепарацию, разделение в тяжелых жидкостях, выделение мономинеральных фракций и др., что помогает подготовить образцы для дальнейшего анализа. Эти методы необходимы для обеспечения точности и репрезентативности результатов. Для анализов оптическими и электронно-оптическими методами изготавливаются полированные (в том числе с использованием ионного шлифования) аншлифы, шлифы и шашки.

3. Преимущества использования Центра "ИГЕМ-Аналитика"

  • Доступ пользователей к высокотехнологичному оборудованию.
  • Экономия времени и средств. Использование возможностей Центра помогает избежать значительных затрат на оборудование и наем дополнительных специалистов, а также ускоряет процессы аналитических исследований.
  • Широкий спектр анализов. Центр предоставляет возможность комплексного анализа образцов с использованием различных методов на разных масштабных уровнях, что позволяет более точно интерпретировать результаты исследований.
  • Поддержка научных и промышленных проектов. Центр активно поддерживает исследования и проекты, направленные на улучшение качества материалов и оптимизацию процессов в промышленности.

4. Структура Центра "ИГЕМ-Аналитика"

Центр включает в себя несколько ключевых подразделений:

  • Научно-исследовательские лаборатории — для выполнения рентгенофазового и химического анализа, микроскопии.
  • Лаборатории пробоподготовки — для дробления, рассеивания, истирания и электромагнитной сепарации.
  • Комплексные испытательные установки — для проведения ICP-MS, ICP-AES, LA-ICP-MS анализов.

5. Кто может воспользоваться Центром?

Центр "ИГЕМ-Аналитика" доступен для:

  • Научных сотрудников и исследовательских групп, работающих в области геологии, минералогии и материаловедения.
  • Представителей промышленности, занимающихся добычей, переработкой и использованием полезных ископаемых.
  • Малых и средних предприятий, ищущих возможности для научных исследований и тестирования своих продуктов.

 Все измерения в Центре "ИГЕМ-Аналитика" проводятся по аттестованным методикам, что гарантирует точность, надежность и соответствие международным стандартам. Оборудование Центра регулярно проходит техническое обслуживание и поверки. Измерения выполняются с использованием государственных стандартных образцов.

Основное оборудование ЦКП
Щековая дробилка RockLabs (Новая Зеландия)

Предназначена для механического измельчения горных пород до 0.5 мм.

Щековая дробилка RockLabs (Новая Зеландия)
Ударно-шаровая мельница в комплекте PICA BLENDER Mill-2601

Истирание горных пород до ...

Ударно-шаровая мельница в комплекте PICA BLENDER Mill-2601
Лабораторный концентрационный стол Holman 800 (Англия)

Гравитационное обогащение минералов на концентрационном столе; Типовые пробы от 1 до 10 кг; Размер зерен 1-0.25, 0.5-0.05.

Лабораторный концентрационный стол Holman 800 (Англия)
Микроанализатор электронно-зондовый JXA 8100, в комплекте, Япония

Энергодисперсионный рентгеновский микроанализ с чувствительностью 0,01 % и определяемыми элементами от B до U

Микроанализатор электронно-зондовый JXA 8100, в комплекте, Япония
Рентгенофлуоресцентный спектрометр Axios Advanced Philips Analitical, Нидерланды

Предназначен для измерения содержания главных и примесных элементов, входящих в состав проб минеральных веществ. Область применения: металлургическая, горнодобывающая, химическая и другие отрасли промьшленности, экологические исследования, а также научно- исследовательские работы и лаборатории контроля качества.

Рентгенофлуоресцентный спектрометр Axios Advanced Philips Analitical, Нидерланды
Атомно-абсорбционные спектрофотометры Spectr AA-220Z, Spectr AA-220 FS

Определение массовой доля микро- и макроэлементов, токсичных веществ Диапазон измерений 185-900 нм, ширина щели 0,2; 0,5; 1,0 нм Диапазон погрешностей измерений ± (20-60) % отн.

Атомно-абсорбционные спектрофотометры Spectr AA-220Z, Spectr AA-220 FS
Масс-спектрометр с индуктивно связанной плазмой X-Series II

Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области многоэлементного анализа методом масс-спектрометрии с индуктивно связанной плазмой.

Масс-спектрометр с индуктивно связанной плазмой X-Series II
Масс-спектрометр с индуктивно связанной плазмой X-Series с лазерной приставкой

Направления использования: локальный многоэлементный анализ твердых образцов; минимальный диаметр анализируемого образца 40мкм (диаметр пучка лазера 20 мкм).

Масс-спектрометр с индуктивно связанной плазмой X-Series с лазерной приставкой
8 из 10
Контакты ЦКП
Руководитель ЦКП, Старший научный сотрудник, кандидат геолого-минералогических наук
Адрес:
119017, Москва, Старомонетный переулок, 35